化学世界

2020, v.61(02) 110-115

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粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分
Determination of Impurities Graphite Using Pressed Powder Pellet Based X-Ray Fluorescence Spectrometry

杨峰;郭家泽;刘伟洪;

摘要(Abstract):

采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO_2、Al_2O_3、Fe_2O_3、CaO、MgO、MnO、P_2O_5、TiO_2的质量分数。使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件。测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8%~4.86%之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致。

关键词(KeyWords): 粉末压片;X射线荧光光谱;石墨

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 杨峰;郭家泽;刘伟洪;

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DOI: 10.19500/j.cnki.0367-6358.20180808

参考文献(References):

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